天目湖先进储能技术研究院

技术参数

最高加速电压200 kV

Schottky热场发射电子枪

晶格分辨率 0.10 nm，点分辨率 0.24 nm

信息分辨率 0.16 nm，STEM分辨率 0.2 nm

最小束斑尺寸≤0.3nm  

TEM放大倍数 25×-1000k×，最大倾转角 ≥40，≥25

X射线能谱分辨率 150eV   分辨范围 Be-U 

应用范围

观察各种材料的微观结构并对样品进行纳米尺度的微区分析，如：形貌观察，高分辨电子显微学研究（HRTEM），电子衍射（ED），会聚束电子衍射（CBED），衍射衬度成像（BF，DF），X射线能谱分析（EDS），原子序数Z-衬度成像（HAADF - STEM）等。

除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料