测试与失效分析

Testing and Failure Analysis

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扫描电子显微镜(SEM)

设备型号:Regulus 8100
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技术参数

二次电子分辨率:0.8 nm (加速电压 15 kV) (标准模式,非任何减速模式下)

1.1 nm (加速电压 1 kV)(减速模式)

放大倍数:20 到 1000k         加速电压:20-1000k

电位移:±12μm(WD=8mm)

光阑:4孔物镜活动光阑系统:内置自清洁装置(孔径30、50、50、100μm)

探测器:低位(Lower)、高位(Upper)二次电子探测器、高位过滤背散射探头

信号选择:二次电子像、背散射电子像、混合像

快速换样系统:100mm直径大样品交换仓,换样时间30秒

真空转移系统:日立原装真空转移系统

能谱仪:布鲁克60mm2能谱


应用范围

1、加速电压减速功能,具有波长较短、像差较小、分辨力高的一系列优点,降低样品损伤的同时,可以获得低电压高分辨的图像。2、SE/BSE信号按比例接收功能,电镜配有低位(Lower),高位(Upper)二次电子探测器,高位过滤背散射探头,可以通过改变透镜内变换电极的电压,让检测器捕捉到二次电子及背散射电子,以任意比例(100级)混合,达到最 佳对比度的观察,抑制荷电、边缘效应,从而获得对比度最 佳的SEM像。

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