测试与失效分析

Testing and Failure Analysis

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纳米粒度及Zeta电位分析仪

设备型号:ZETASIZER NANO-ZS
针对各类储能业务需求,TIES力图发展成为布局全面,面向市场,集测试分析、失效分析、资质认证、技术开发、工程放大、智能制造、高价值信息服务、高端培训为一体的研发型企业。 联系我们

技术参数

最大粒径范围:0.3 nm—10 μm

浓度范围:0.1 ppm--40%w/v

检测角度:175°和12.8°

最小样品量:12 µL

Zeta电位范围:无实际限制

最大样品浓度:40% w/v

最高电导率:200 mS/cm

最小样品量:20 µL

检测技术:M3-PALS

分子量范围(DLS):342--2×107 Da

分子量范围(SLS):980--2×107 Da


应用范围

新一代Zetasizer Nano 系列纳米粒度和Zeta电位及分子量分析仪

融合多项专利技术

粒度范围极宽:0.3nm--10μm

浓度范围广:0.1ppm--40%w/v

高分辨率高灵敏度Zeta电位测量

特制高性能He-Ne激光器,提供更高的信噪比


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